工業(yè)步入式高溫老化房用途：

　　該老化房主要是針對(duì)汽車電子、通訊產(chǎn)品、PCB、消費(fèi)電子等產(chǎn)品老化的壽命測(cè)試；電腦板、接口卡、插卡、手機(jī)電源產(chǎn)品的老化測(cè)試；機(jī)頂盒、高速公路、安防產(chǎn)品的燒機(jī)；需要經(jīng)過集裝箱海運(yùn)出口的產(chǎn)品老化（模擬集裝箱內(nèi)的高溫環(huán)境）

　　工業(yè)步入式高溫老化房性能標(biāo)準(zhǔn)：

1)在美軍標(biāo)MIL-STD-810D，4.4.1試驗(yàn)條件允差中規(guī)定“試樣*被空氣包圍(必要的支承點(diǎn)除外)，試驗(yàn)區(qū)測(cè)區(qū)測(cè)理系統(tǒng)的溫度和包圍試件各處的溫度梯度應(yīng)分別在試驗(yàn)溫度的±2℃以內(nèi)和不超過每米1℃或總的zui大值為2.2℃(試件不運(yùn)作)"此標(biāo)準(zhǔn)中用±2℃的溫度偏差和1℃/M的溫度梯度來要求箱內(nèi)運(yùn)作空間的溫度均衡性。
　　
　　2)在美軍標(biāo)MIL-STD-202F，2.2.1及MIL-STD-883C，4.5.8中要求運(yùn)作區(qū)空間內(nèi)任一點(diǎn)的溫度，在給定時(shí)間內(nèi)偏離基準(zhǔn)點(diǎn)不超過±3℃(即為容許偏差)。
　　
　　3)在IEC68號(hào)出版物及GB2423中，對(duì)試驗(yàn)箱運(yùn)作空間的溫度均衡性要求以“容差"即對(duì)標(biāo)稱溫度的容許偏差表述。對(duì)容差大小，在高溫箱中規(guī)定為±2℃，在低溫箱中規(guī)定為±3℃。
　　
　　4)在IEC68-2-3，2.1的注中“溫度±2℃的容差是由于考慮到有測(cè)量的誤差，緩慢的溫度變化和運(yùn)作空間的溫度波動(dòng)度等"。在IEC216號(hào)出版物第四篇老化烘箱中，定義“溫度偏差"是“由于溫度波動(dòng)度和溫度梯度組合而成的誤差"。
　　
　　5)GB／T5170•21996《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備》，規(guī)定“溫度偏差"為試驗(yàn)箱溫度性能指標(biāo)的*檢定項(xiàng)目。溫度偏差的檢定方法是：當(dāng)運(yùn)作空間指示點(diǎn)溫度*次達(dá)到標(biāo)稱溫度后穩(wěn)定2h。測(cè)量各測(cè)試點(diǎn)溫度，每2min記錄一次各點(diǎn)的溫度，在30min內(nèi)共測(cè)量15次。運(yùn)作空間各測(cè)試點(diǎn)的實(shí)測(cè)zui高溫度和實(shí)測(cè)zui低溫度與標(biāo)稱溫度的上、下偏差定為設(shè)備在該標(biāo)稱溫度下的溫度偏差。